一种新型的原子荧光光度计检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种新型的原子荧光光度计检测装置,包括底座总成、上盒盖、紫外光谱探测器A、衰减窗A、透镜测试架A、光源固定支体A、紫外光谱探测器B、衰减窗B、透镜测试架B和光源固定支体B,上盒盖设置在底座总成的顶部,且用合页铰链连接,底座总成背面的顶部位置设置有上盒盖,紫外光谱探测器A设置在底座总成顶部的左侧位置,紫外光谱探测器A的右侧设置有衰减窗A,该装置通过底座总成与上盒盖之间的配合,达到了方便携带的使用效果,解决了以往的检测装置体积大且不方便携带的问题,通过底座总成与USB端口之间的配合,达到了可直接插入U盘进行数据存储或传输信息的效果,解决了以往数据无法存储或易丢失的问题。
基本信息
专利标题 :
一种新型的原子荧光光度计检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021896300.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-03
授权号 :
CN212989170U
授权日 :
2021-04-16
发明人 :
李晓锋徐海中戴宗贤曾红
申请人 :
重庆市计量质量检测研究院
申请人地址 :
重庆市渝北区杨柳北路1号
代理机构 :
北京化育知识产权代理有限公司
代理人 :
涂琪顺
优先权 :
CN202021896300.X
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 G01N21/33
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2021-04-16 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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