用于多层板精准对位的X-Ray精度检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及精度检测技术领域，具体为用于多层板精准对位的X‑Ray精度检测装置，包括检测装置本体和显示屏主体，所述检测装置本体的顶端放置有显示屏主体，所述检测装置本体的顶端两侧皆开设有开槽，所述开槽的内部插设有嵌块，所述嵌块的顶端固定安装有滑杆，所述滑杆的顶端开设有孔洞，且孔洞的内部插设有挤压板，所述挤压板的内部开设有孔洞，且孔洞的内部插设有转杆。本实用新型通过设置有挤压板和嵌块，可以使挤压板对显示屏主体进行限位固定，进而使显示屏主体的稳定性更好，避免检测装置本体发生晃动造成显示屏主体倾倒的情况，进而使显示屏主体的使用效果更好，使用方便。
基本信息
专利标题 ：
用于多层板精准对位的X-Ray精度检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021900403.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-03
授权号 ：
CN214095951U
授权日 ：
2021-08-31
发明人 ：
沈海平严星冈韩建沈永平
申请人 ：
广德东风电子有限公司
申请人地址 ：
安徽省宣城市广德县经济开发区PCB产业园
代理机构 ：
合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王俊晓
优先权 ：
CN202021900403.9
主分类号 ：
G01B15/00
IPC分类号 ：
G01B15/00 B25B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
法律状态
2021-08-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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