一种低温差示扫描量热仪制冷的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种低温差示扫描量热仪制冷的装置，包括差示扫描量热仪主体，所述差示扫描量热仪主体的内腔中安装有保温仓，所述保温仓中安装有样品仓，所述差示扫描量热仪主体的底部外壁上固定安装有安装板，所述安装板的底部安装有制冷仓，所述制冷仓中设置有制冷片，所述制冷片的进水端接通有导管，所述导管的输入端连接水泵，所述接水泵的进水端安装有进水管，所述制冷片的出水端接通有出水管，所述进水管和出水管的末端均设置在差示扫描量热仪主体的外部，本实用新型的差示扫描量热仪制冷的装置的制冷效果佳，样品接触面积广，受冷均匀，且整体采用循环水冷制冷片，整体功耗小和节能，易于长时间的进行使用。
基本信息
专利标题 ：
一种低温差示扫描量热仪制冷的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021953316.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-07
授权号 ：
CN212989220U
授权日 ：
2021-04-16
发明人 ：
王晶伟
申请人 ：
天津华普实验仪器有限公司
申请人地址 ：
天津市津南区津南经济开发区（西区）上海街05号1号楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021953316.X
主分类号 ：
G01N25/20
IPC分类号 ：
G01N25/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/20
通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率
法律状态
2021-04-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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