半导体巴条光束指向性偏差测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及激光应用技术领域，提供一种半导体巴条光束指向性偏差测试装置。该半导体巴条光束指向性偏差测试装置，包括安装座、反射镜组和图像采集机构，所述反射镜组安装于所述安装座上，且与巴条上的发光单元相适配，所述图像采集机构与所述反射镜组相对设置。本实用新型通过设置安装座，安装座上安装有反射镜组，反射镜组与巴条上的发光单元相适配，实现将巴条光束一一反射分离，图像采集机构有效提取单发光单元光束的光强分布中心，采集数据并获得光束指向偏差，本测试装置具有通用性、扩展性和广泛的实用性，结构简单，操作方便。
基本信息
专利标题 ：
半导体巴条光束指向性偏差测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021984285.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-11
授权号 ：
CN213335999U
授权日 ：
2021-06-01
发明人 ：
秦文斌赵云哲王旭李景王智勇曹银花
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
孙婧雯
优先权 ：
CN202021984285.4
主分类号 ：
G01B11/26
IPC分类号 ：
G01B11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/26
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2021-06-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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