一种折射型光电检测装置
专利申请权、专利权的转移
摘要
本实用新型涉及一种折射型光电检测装置,其包括承载座以及设于承载座上的料船、第一传感器和第二传感器,料船上设有四个料坑,四个料坑横向设为一排,料坑分别与横向设置的第一凹槽以及竖向设置的第二凹槽相连通,第一凹槽垂直于第二凹槽,第一传感器的第一发射端与折射镜分别位于第一凹槽的两侧,第二传感器的第二发射端与第二接收端分别位于第二凹槽的两侧,第一传感器的第一接收端与第二传感器的第二接收端位于同一排内。本实用性提供的折射型光电检测装置具有结构简单、使用方便、检测效果好等优点。
基本信息
专利标题 :
一种折射型光电检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022005763.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-14
授权号 :
CN212781277U
授权日 :
2021-03-23
发明人 :
林宜龙刘飞唐召来邓睿张宋儿
申请人 :
深圳格兰达智能装备股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
颜希文
优先权 :
CN202022005763.9
主分类号 :
G01V8/20
IPC分类号 :
G01V8/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V8/00
用光学装置勘探或探测
G01V8/10
探测,例如,用光垒
G01V8/20
用多个发射器或多个接收器
法律状态
2022-03-22 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移IPC(主分类) : G01V 8/20
登记生效日 : 20220309
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 深圳格兰达智能装备股份有限公司
变更后权利人 : 深圳格芯集成电路装备有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 518118 广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园
变更后权利人 : 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道竹坑社区翠景路33号格兰达装备产业园二期厂房一层至三层
登记生效日 : 20220309
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 深圳格兰达智能装备股份有限公司
变更后权利人 : 深圳格芯集成电路装备有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 518118 广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园
变更后权利人 : 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道竹坑社区翠景路33号格兰达装备产业园二期厂房一层至三层
2021-03-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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