本实用新型涉及电子连接器领域，公开了一种片针测试结构，该片针测试结构包括座体组件和测试片针；所述座体组件包括从上到下依次层叠设置的上盖、中间座和下盖，所述上盖、所述中间座和所述下盖形成有若干相互独立的插槽，所述插槽贯穿上盖、中间座和下盖，各所述插槽均贯穿插入有一所述测试片针；所述座体组件还包括至少一组可拆卸的固定组件，一组所述固定组件将所述上盖、所述中间座和所述下盖连接为一整体。片针测试结构中的座体组件且具有加工简单、打样成本低和制作周期短的优点。