一种测量薄板砖形的支撑架
授权
摘要
本实用新型公开一种测量薄板砖形的支撑架，包括底架，焊接固定在底架上方前端的、且与底架处置的直立架，通过螺钉安装在所述固定在底架上方的、且位于直立架下端前方的板角固定条；所述直立架包括直立框体，设置在直立框体内部两端的、且相互平行的支撑柱，设置在所述支撑柱上端内侧的调平固定机构；该测量薄板砖形的支撑架能够代替现有测量薄板砖形态变化的工作台，通过直立的方式能够使得薄板砖的曲面数据，同时也更加方便检测薄板砖的对角线，更加快捷剔除不合格的薄板砖。
基本信息
专利标题 ：
一种测量薄板砖形的支撑架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022023572.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-15
授权号 ：
CN213147763U
授权日 ：
2021-05-07
发明人 ：
刘仕平
申请人 ：
广东嘉联企业陶瓷有限公司
申请人地址 ：
广东省肇庆市鼎湖区永安镇歧洲大道侧(土地名:原种场)
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022023572.5
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00 G01B21/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2021-05-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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