上睑下垂测量器
授权
摘要
本实用新型公开了一种上睑下垂测量器，其包括能够覆盖在眼球上的半球壳状的角膜保护罩，所述角膜保护罩由透明材料制成，在所述角膜保护罩上设有多个同心圆形式的刻度圈。本实用新型通过将角膜保护罩改进为透明材料，以及角膜保护罩上设有的多个同心圆形式的刻度圈的设计，有利于准确测量角膜的大小，也可精确地测量上睑缘对角膜的遮盖程度，术中可睁眼观察角膜的暴露程度，保护角膜不受损伤，提高了上睑下垂矫正手术的精度，并且手术的意外风险大幅度降低。
基本信息
专利标题 ：
上睑下垂测量器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022057876.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-18
授权号 ：
CN213758185U
授权日 ：
2021-07-23
发明人 ：
齐心竹
申请人 ：
齐心竹
申请人地址 ：
上海市杨浦区宁波路1号申华金融大厦
代理机构 ：
北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩登营
优先权 ：
CN202022057876.3
主分类号 ：
A61B3/107
IPC分类号 ：
A61B3/107 A61B3/10 A61F9/007
相关图片
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B3/09
??用于测试眼调节能力的
A61B3/10
客观型的，即不依赖于病人的感觉或反应的检验眼睛的器械
A61B3/107
用于确定角膜形状或测量角膜曲率的
法律状态
2021-07-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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