一种辐照加速器束斑测量系统
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摘要
本实用新型公开了一种辐照加速器束斑测量系统，用于测量辐照加速器产生的电子束斑的大小，其特征在于，包括：电子束输出组件、束斑测量组件、同步驱动模块和支架；束斑测量组件滑动设置在支架上，束斑测量组件包括YAG晶体、反光镜和CCD相机；YAG晶体正对电子束输出组件设置，反光镜设置在YAG晶体背离电子束输出组件的一侧且正对电子束输出组件，CCD相机设置在反光镜的反射光路上；同步驱动模块分别与束斑测量组件和电子束输出组件驱动连接，以实现束斑测量组件与电子束做同步运动。该系统可以实现实时对加速器的电子束斑大小进行测量的目的，简单方便。
基本信息
专利标题 ：
一种辐照加速器束斑测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022060748.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-18
授权号 ：
CN212569162U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
单云谭松清高宁王复涛张海龙封淼伟赵平叶斌王凤涛黄敬松徐粒峰
申请人 ：
上海高鹰科技有限公司
申请人地址 ：
上海市金山区漕泾镇亭卫公路3308号1幢2层
代理机构 ：
上海申新律师事务所
代理人 ：
竺路玲
优先权 ：
CN202022060748.4
主分类号 ：
G01T1/29
IPC分类号 ：
G01T1/29 G01T1/36 G01T1/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/175
电源电路
G01T1/29
对辐射束流的测量，例如，测量射束位置或截面；辐射的空间分布的测量
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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