一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统
授权
摘要
本申请公开一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统，属于电阻检测技术领域，包括：测试座，用于放持待测试产品；设置在测试座上的四个测试端子，四个测试端子分别与待测试产品的电极相对应电连接；与两个测试端子电连接的高阻计，用于检测待测试产品的绝缘电阻，测试座与高阻计组成一闭合回路；与另两个测试端子电连接的电容器，电容器与测试座组成另一闭合回路，且电容器与高阻计并联设置；因此使得高阻计能够测量电容器及位于测试座上待测试产品的电容值总和，因此若高阻计的电容值测量结果小于或等于电容器的电容值，则表明了测试端子与待测试产品接触不良，从而能够及时将这些产品剔除或重新测试，因此提高了测试结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种绝缘电阻检测仪器的接触不良测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022087487.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-21
授权号 ：
CN213457326U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
杨平黄德林曾艳军田志飞
申请人 ：
深圳顺络电子股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区观澜街道大富苑工业区顺络观澜工业园
代理机构 ：
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司
代理人 ：
王敏生
优先权 ：
CN202022087487.5
主分类号 ：
G01R31/69
IPC分类号 ：
G01R31/69 G01R27/26 G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/69
电缆或线束的末端端子的；插头的；插座的，例如电器中的墙壁插座或电源插座
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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