电气自动化研发试验台
授权
摘要
本实用新型公开了电气自动化研发试验台,包括底座和上测试箱,所述上测试箱安装在底座的上端,所述上测试箱内分隔有多组操作腔,且上测试箱位于操作腔的前端设有开口,所述开口的底端连通伸缩通口,所述伸缩通口的底端连通收纳腔,且收纳腔设置在底座内,所述收纳腔内安装有电推杆,所述电推杆的顶端连接连接件,所述连接件上安装有密封玻璃板,本实用新型通过在上测试箱上设置多组分隔的操作腔,在底座位于操作腔的前端设置收纳腔,并在收纳腔内设置利用电推杆带动的可升降的密封玻璃板,利用电推杆带动密封玻璃板上升到开口处,并将密封玻璃板的顶端插入到开口顶端的密封插接槽内,利用密封玻璃板进行密封,可根据需求打开和关闭操作腔。
基本信息
专利标题 :
电气自动化研发试验台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022088007.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-22
授权号 :
CN213457145U
授权日 :
2021-06-15
发明人 :
王文星
申请人 :
天津星顺科技有限公司
申请人地址 :
天津市东丽区蓝庭公寓9-302室
代理机构 :
天津垠坤知识产权代理有限公司
代理人 :
于德江
优先权 :
CN202022088007.7
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2021-06-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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