一种相控阵无损检测探伤仪
授权
摘要
本申请涉及探伤仪的技术领域，尤其是涉及一种相控阵无损检测探伤仪，包括探伤仪本体和设置在探伤仪本体上的检测探头，所述探伤仪本体上铰接有第一盖板，所述第一盖板背离探伤仪本体的一侧铰接有连接盖板，所述连接盖板背离第一盖板的一侧铰接有第二盖板，所述第一盖板、连接盖板和第二盖板能转动至扣合在探伤仪本体上，所述探伤仪本体上设置有用于固定第二盖板的锁紧组件。本申请具有方便携带的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种相控阵无损检测探伤仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022124545.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-24
授权号 ：
CN213423112U
授权日 ：
2021-06-11
发明人 ：
王俊龙杨宇翔宋晓伟赵晓宇李克强刘乐李风宝
申请人 ：
河北冀安华瑞无损检测技术有限公司
申请人地址 ：
河北省石家庄市新华区中华北大街298号颐宏大厦B座1309、1310、1311、1318室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022124545.7
主分类号 ：
G01N33/00
IPC分类号 ：
G01N33/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2021-06-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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