一种X射线探伤设备
授权
摘要
本申请涉及无损检测的领域，尤其是涉及一种X射线探伤设备，其包括支架、供电箱、处理器、发射探头及滚动组件，所述支架包括底板和垂直固定于底板上的立柱，所述滚动组件包括滚轮、设置在支架上的固定板、设置在固定板与滚轮之间的铰接轴，所述供电箱和处理器设置在支架上，所述处理器上设置有显示屏。本申请将处理器和供电箱设置在支架上，支架上安装滚动组件，可以通过推动支架，可以同时移动供电箱、处理器，方便X探伤设备的移动，减轻了工作人员的工作强度，提升了检测人员的检测速度。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线探伤设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022126462.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-24
授权号 ：
CN213456730U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
杨宇翔宋晓伟王俊龙赵晓宇张峥程晓涛
申请人 ：
河北冀安华瑞无损检测技术有限公司
申请人地址 ：
河北省石家庄市新华区中华北大街298号颐宏大厦B座1309、1310、1311、1318室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022126462.1
主分类号 ：
G01N23/02
IPC分类号 ：
G01N23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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