一种凸曲面测绘卡尺

授权

摘要

本实用新型公开了一种凸曲面测绘卡尺，包括外框架和多个分度尺，所述分度尺为长方体形，所述外框架为方形框架，多个所述分度尺密排阵列地设于所述外框架内，所述分度尺的侧面设有刻度，各分度尺可相对所述外框架上下移动。本实用新型的有益效果是多个分度尺测量凸曲面上的不同点，得到不同点的高度数据，再将这些数据输入计算机，即可通过软件模拟还原该凸曲面，成本低廉，携带操作方便。

基本信息

专利标题：

一种凸曲面测绘卡尺

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022158839.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-27

授权号：

CN212721217U

授权日：

2021-03-16

发明人：

刘格陈彪

申请人：

成都信华光电技术有限公司

申请人地址：

四川省成都市武侯区武侯新城管委会武科西一路88号1幢2层2号

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司

代理人：

肖宇扬

优先权：

CN202022158839.1

主分类号：

G01B5/02

IPC分类号：

G01B5/02 G01B5/20