一种IGBT模块全自动分选测试线
授权
摘要
本实用新型公开了一种IGBT模块全自动分选测试线，包括测试台和安装架，所述安装架为底部开口的矩形框状结构，所述安装架设置于所述测试台上方，且所述安装架内底部两侧设置有两组滑块，所述测试台顶部设置有支撑所述滑块横向滑动的滑框。有益效果在于：本实用新型通过两组承托架对IGBT模块两侧进行同步定位，以确保IGBT模块处于测试台顶部中心位置，从而快速实现定位操作，改善人工定位造成的引脚对齐困难问题，同时可通过微调组件对两组承托架进行同步横移调整，从而对测试位置进行微调，确保定位准确性，且在探针座顶部设置弹性缓冲组件，以对引脚接线操作进行缓冲，进一步保障引脚结构连接稳定性，实用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种IGBT模块全自动分选测试线
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022162855.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-28
授权号 ：
CN213122189U
授权日 ：
2021-05-04
发明人 ：
任春茂陈春胜罗辉王伟群黄广龙谢冬坡
申请人 ：
深圳市愿力创科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙岗区宝龙街道宝龙社区翠宝路32号新屋吓宝龙工业厂区4号厂房401-8
代理机构 ：
深圳市中智立信知识产权代理有限公司
代理人 ：
丁丽琴
优先权 ：
CN202022162855.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-05-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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