一种自动光学检测设备
授权
摘要

本申请提供一种自动光学检测设备,涉及检测设备技术领域。该自动光学检测设备,包括:基座、遮光罩、传送机构、光源、相机、主机和显示器;其中,所述遮光罩设于所述基座上,并与所述基座配合形成内部遮光环境;所述传送机构用于将被检测产品移入或移出所述内部遮光环境;所述光源和所述相机均设于所述遮光罩内,所述光源用于对所述被检测产品进行照明;所述相机与所述主机电连接,用于采集所述被检测产品的图像,并将所述图像发送给所述主机;所述主机还与设于所述遮光罩外侧的所述显示器电连接,用于根据所述图像对所述被检测产品进行检测,并将检测画面输出至所述显示器进行显示。上述自动光学检测设备能够实现对电子产品的自动化检测。

基本信息
专利标题 :
一种自动光学检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022163666.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-27
授权号 :
CN213456701U
授权日 :
2021-06-15
发明人 :
吴少敏吴坚朱麟袁存仓
申请人 :
联想(北京)有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区上地西路6号2幢2层201-H2-6
代理机构 :
北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
任媛
优先权 :
CN202022163666.2
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-06-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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