一种超微晶铁芯测量装置
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摘要

本实用新型公开了一种超微晶铁芯测量装置,包括放置盖板、底座、基座和显示机构,所述基座的顶部两侧安装有提手,所述基座的顶部通过安装座安装有显示机构,所述显示机构的顶部安装有底座,所述底座的顶部设有四组凹槽二,所述凹槽二内通过重力传感器安装有称重机构一、称重机构二、称重机构三和称重机构四,所述放置盖板上均匀安装有手动伸缩杆。本实用新型涉及机械制造技术领域,具体为一种超微晶铁芯测量装置,通过在底座的内部安装有四个独立的称重机构一/二/三/四,在进行测量时,不需要再挨个的进行测量,能够一次性的测量四个微晶铁芯数据,也避免花费了购买多个测量装置的资金,更加提高了测量的准确性与长效性。

基本信息
专利标题 :
一种超微晶铁芯测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022167987.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-28
授权号 :
CN213090918U
授权日 :
2021-04-30
发明人 :
杨益
申请人 :
南通巨升非晶科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市海安市城东镇立发大道169号
代理机构 :
北京天盾知识产权代理有限公司
代理人 :
丁桂红
优先权 :
CN202022167987.X
主分类号 :
G01G13/00
IPC分类号 :
G01G13/00  G01G21/22  G01G21/28  G01G21/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01G
称量
G01G13/00
带有自动供料或卸料以称量成批材料的称量设备
法律状态
2021-04-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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