红外测温传感器装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本实用新型提供一种红外测温传感器装置,包括管帽、凸透镜、红外滤光片、红外热电堆传感器及封装底座;所述封装底座位于所述管帽的底部以和所述管帽构成一封闭的中空区域;所述管帽上设置有朝所述中空区域凹陷的凹槽,且所述凹槽上设置有通孔;所述凸透镜嵌设于所述凹槽内,且覆盖所述通孔;所述红外滤光片设置于所述中空区域内,且对应位于所述通孔的下方;所述红外热电堆传感器位于所述中空区域内,且对应位于所述红外滤光片的下方,所述红外热电堆传感器与所述红外滤光片具有间距。本实用新型有助于确保探测范围内散布性的红外光能被集中接收,有助于提高测温精度,且有助于进一步提高测温距离,有利于扩大红外测温传感器装置的应用场景。

基本信息
专利标题 :
红外测温传感器装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022203725.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-30
授权号 :
CN212320923U
授权日 :
2021-01-08
发明人 :
姚俊徐德辉张凤
申请人 :
上海烨映电子技术有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区菊园新区环城路2222号1幢J310室
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
余明伟
优先权 :
CN202022203725.4
主分类号 :
G01J5/00
IPC分类号 :
G01J5/00  G01J5/12  G01J5/08  G01J5/06  G01J5/02  G01K13/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2021-02-12 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01J 5/00
变更事项 : 专利权人
变更前 : 上海烨映电子技术有限公司
变更后 : 上海烨映微电子科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 201800 上海市嘉定区嘉定区菊园新区环城路2222号1幢J310室
变更后 : 201800 上海市嘉定区菊园新区环城路2222号1幢J310室
2021-01-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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