一种用于地质学探测的测定装置
授权
摘要

本实用新型涉及地质探测技术领域,特别是涉及一种用于地质学探测的测定装置,包括支撑架,所述支撑架的一侧滑动安装有控制器,控制器靠近固定架的一侧顶部和底部内壁上均开设有固定孔,固定孔内滑动安装有固定杆,固定杆的一端延伸至控制器内,固定杆的另一端延伸至控制器外,两个固定杆延伸至控制器外的一端与固定架的一侧固定连接,两个固定杆延伸至控制器内相互靠近的一侧均开设有限位槽,限位槽内滑动安装有限位杆,限位杆的一端延伸至限位槽内,限位杆的另一端延伸至限位槽外。本实用新型能够实现快速安装和拆卸控制器的目的。

基本信息
专利标题 :
一种用于地质学探测的测定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022271887.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-13
授权号 :
CN213689974U
授权日 :
2021-07-13
发明人 :
成德健汪长重
申请人 :
成德健
申请人地址 :
四川省成都市成华区二仙桥东三路1号
代理机构 :
合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
宋萍
优先权 :
CN202022271887.1
主分类号 :
G01V9/00
IPC分类号 :
G01V9/00  G01N33/24  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01V
地球物理;重力测量;物质或物体的探测;示踪物
G01V9/00
用G01V1/00至G01V8/00各组不包括的方法勘探或探测
法律状态
2021-07-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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