轨道电路综合测试仪
授权
摘要

本实用新型涉及轨道电路综合测试仪,包括具有触控屏和若干测试插孔的测试主机和护盖,所述测试主机上部的左右两侧设置有边槽,所述边槽前后贯通所述测试主机且顶部开放,所述边槽的中部转动连接有短臂,所述护盖左右两侧的上部一体连接有短轴,所述短臂的另一端与所述短轴转动连接,所述护盖能够完全遮盖所述触控屏和测试插孔,所述护盖上对应所述测试插孔设置有防尘塞,所述防尘塞在所述护盖盖设在触控屏上时插设在所述测试插孔中;本实用新型结构简单,安全性高,体积小,便于携带,实用性强;通过设置可翻盖的护盖能够有效的保护触控屏,避免其他物品撞击损坏触控屏。

基本信息
专利标题 :
轨道电路综合测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022278786.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-13
授权号 :
CN212872779U
授权日 :
2021-04-02
发明人 :
张兴杰
申请人 :
郑州麦科信电子技术有限公司
申请人地址 :
河南省郑州市高新开发区国槐街8号火炬大厦B1501号
代理机构 :
郑州裕晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王瑞
优先权 :
CN202022278786.7
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-02 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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