一种基于场景检测的漏磁探头
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于场景检测的漏磁探头,包括磁体与支架,所述磁体底端轴心处设置有支架,所述磁体与支架固定连接,所述支架的底端设置有检测探头,所述磁体底端左右两侧各设置有一个线圈柱,本实用新型中通过将传统的整体式的支架更改为现有的在支架的内部设置有缓冲件,这样在检测时检测探头触碰到硬物时,可以通过缓冲件的压缩作用下使得检测探头上升,避免了检测探头与硬物直接硬性接触,从而有效的提高了该检测探头的使用寿命。

基本信息
专利标题 :
一种基于场景检测的漏磁探头
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022295872.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-10-15
授权号 :
CN212904669U
授权日 :
2021-04-06
发明人 :
王科峰
申请人 :
天津虎瑞科技有限公司
申请人地址 :
天津市河东区中山门互助西里9-3-403
代理机构 :
北京久维律师事务所
代理人 :
邢江峰
优先权 :
CN202022295872.9
主分类号 :
G01N27/85
IPC分类号 :
G01N27/85  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/626
应用加热电离气体
G01N27/72
通过测试磁变量
G01N27/82
用于测试缺陷的存在
G01N27/83
通过测试杂散磁场
G01N27/85
利用磁强记录仪方法
法律状态
2021-04-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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