一种插片式辐照实验样品架
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摘要
本实用新型公开了一种插片式辐照实验样品架，其特点是：包括左右方向布设的限束法兰、以及插片式辐照实验样品架；该限束法兰轴向中心处开有与质子束流传输线相对应的通孔、通孔的一端连接束流线末端、另一端连接的插片式辐照实验样品架，束流线末端的束流从限速法兰通孔的一端穿过、辐射到限速法兰另一端的插片式辐照实验样品架上。本实用新型用插片式辐照实验样品架代替了平面移动式实验样品架，取得了预想不到的效果。和现有技术的平面式可移动的样品架相比，变分时照射改进为并行照射，而且并行照射的样品数量达到最大化，有效节省了辐照时间，大幅度降低了用户的成本。
基本信息
专利标题 ：
一种插片式辐照实验样品架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022317687.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-16
授权号 ：
CN213844775U
授权日 ：
2021-07-30
发明人 ：
符振辉王飞王雷刘振威朱晓锋
申请人 ：
中国原子能科学研究院
申请人地址 ：
北京市房山区新镇北坊
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
卓凡
优先权 ：
CN202022317687.5
主分类号 ：
G21K5/08
IPC分类号 ：
G21K5/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G21
核物理；核工程
G21K
未列入其他类目的粒子或电离辐射的处理技术；照射装置；γ射线或X射线显微镜
G21K5/00
照射装置
G21K5/08
靶或被照射物体的支架
法律状态
2021-07-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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