用于测试薄膜渗透性能的实验结构
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于测试薄膜渗透性能的实验结构，在支撑板的上表面左、右端部固定有左、右侧螺纹座，在左侧螺纹座内安装有左侧顶杆，在左侧顶杆的右端部转动安装有左侧顶座，在右侧螺纹座内安装有右侧顶杆，在右侧顶杆的左端部转动安装有右侧顶座，在左侧顶座与右侧顶座之间的支撑板的上表面设有左侧腔体与右侧腔体，在左侧腔体上设有左侧腔体加液嘴，在左侧腔体的右端面上设有左侧腔体渗透孔，在左侧腔体加液嘴内设有左侧腔体加液塞，在右侧腔体上设有右侧腔体加液嘴，在右侧腔体的左端面上设有右侧腔体渗透孔，在右侧腔体加液嘴内设有右侧腔体加液塞。本实用新型具有结构简单、易于操作、便于拆卸与零件更换、维护保养方便且制造成本低等优点。
基本信息
专利标题 ：
用于测试薄膜渗透性能的实验结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022348507.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-21
授权号 ：
CN212321398U
授权日 ：
2021-01-08
发明人 ：
康斯坦丁·诺沃舍洛夫于葛亮唐阳葛奇杨金东孙正乾
申请人 ：
重庆诺奖二维材料研究院有限公司;无锡墨诺半导体科技有限公司
申请人地址 ：
重庆市北碚区云禾路70号201室
代理机构 ：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹祖良
优先权 ：
CN202022348507.X
主分类号 ：
G01N15/08
IPC分类号 ：
G01N15/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/08
测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或孔隙表面积
法律状态
2021-01-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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