厚度测试仪
授权
摘要
本实用新型涉及厚度测试仪，包括测厚仪主体和测试探头，测厚仪主体后部设有支架，支架与测厚仪主体两侧通过铰接轴连接，所述铰接轴包括轴座、轴芯、压盖和轴盖，轴座设置于测厚仪主体上，轴座上设有轴芯孔，轴芯顶端带有圆形端面，轴芯圆形端面露出穿孔，轴盖上设有定位圆孔，定位圆孔与轴芯位置对应。本实用新型所述铰接轴可以转动，支架的角度转动来调节测厚仪主体的支撑倾斜角度；当轴芯对应上定位圆孔时，支架自动被固定，使用方便。
基本信息
专利标题 ：
厚度测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022348595.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-21
授权号 ：
CN213208949U
授权日 ：
2021-05-14
发明人 ：
李晓明
申请人 ：
辽宁中博工程勘测有限公司
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市沈抚新区芳庭街中环天地5-10号-M1
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022348595.3
主分类号 ：
G01B15/02
IPC分类号 ：
G01B15/02 F16M11/06
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/02
用于计量厚度
法律状态
2021-05-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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