一种具有防尘结构的FLM偏光显微镜
授权
摘要
本实用新型提供一种具有防尘结构的FLM偏光显微镜，属于显微镜技术领域，该具有防尘结构的FLM偏光显微镜包括底板、显微镜结构、防尘组件，所述底板侧面开设有滑槽，滑槽内部滑移连接有所述防尘组件，防尘组件同样可收纳在滑槽内部，所述显微镜结构固定在底板上端，底板上端嵌设有物镜，所述防尘组件展开状态位于物镜上端；该显微镜在设置除尘结构，有效去除物镜上灰尘，提高样品在显微下成像精纯度，且进行使用和收纳时，均可便捷使用，在收纳时，不占用多余空间。
基本信息
专利标题 ：
一种具有防尘结构的FLM偏光显微镜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022377797.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-22
授权号 ：
CN213690098U
授权日 ：
2021-07-13
发明人 ：
陈阳明李青青
申请人 ：
上海晓创检测技术有限公司
申请人地址 ：
上海市奉贤区庄行镇安东路309号第23幢5层
代理机构 ：
上海微策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张静
优先权 ：
CN202022377797.0
主分类号 ：
G02B21/00
IPC分类号 ：
G02B21/00 G02B21/24 B08B1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B21/00
显微镜
法律状态
2021-07-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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