一种片料双面板自动对位电测设备
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摘要
一种片料双面板自动对位电测设备，涉及自动对位设备技术领域，一种片料双面板自动对位电测设备，包括底座、第一连接杆、第二连接杆、压力传感器和螺纹杆；底座底部设置有支撑腿；底座上设置有防尘罩，防尘罩纵向两侧内壁上均设置有通风口，通风口贯穿防尘罩；防尘罩内壁上设置有风机，风机与通风口处于同一高度；通风口内壁上设置有防尘网；底座上设置有支撑架，支撑架位于防尘罩内，支撑架上设置有横向贯穿支撑架的第一侧口和第二侧口。本实用新型使用时能够防尘，提高了装置的精度；能够对装置散热，减少了对双面板的损坏；同时能够对双面板测量进行测量装置的定位，保证很好的对双面板进行测量，操作难度小。
基本信息
专利标题 ：
一种片料双面板自动对位电测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022411439.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-26
授权号 ：
CN213364972U
授权日 ：
2021-06-04
发明人 ：
齐柳
申请人 ：
深圳市森榄技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明区凤凰街道东坑社区鹏凌路2号华丰科技园2栋5楼B厂房
代理机构 ：
北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄娟
优先权 ：
CN202022411439.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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