一种探测精度高的超声波探伤仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种探测精度高的超声波探伤仪，涉及到超声波探伤仪领域，包括探伤仪本体，所述探伤仪本体的顶侧开设有防护槽，防护槽的底侧内壁上设有LED显示槽，防护槽内活动安装遮光防护盖，所述探伤仪本体上开设有调节腔，调节腔内活动安装有调节板，调节板的一侧固定安装有防脱卡块。本实用新型中，在LED显示槽外设有防护槽，防护槽内设有遮光防护盖，遮光防护盖打开并顶起，在有强光的情况下，遮光防护盖强光具有遮挡作用，便于工作人员在强光下观察LCD显示屏上的显示读数，有效解决了当对着强光的话，LCD显示屏表面会反射强光，屏幕本身的背光携带的液晶显示会给反射的强光糅合干扰掉的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种探测精度高的超声波探伤仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022414113.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
CN214472967U
授权日 ：
2021-10-22
发明人 ：
席健
申请人 ：
大庆石油化工工程检测技术有限公司
申请人地址 ：
黑龙江省大庆市龙凤区兴化北街-1号
代理机构 ：
无锡智麦知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王普慧
优先权 ：
CN202022414113.X
主分类号 ：
G01N29/04
IPC分类号 ：
G01N29/04 G01N29/22 G09F9/33
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
法律状态
2021-10-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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