一种用于光学检测装置的散热防尘壳体和光学检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于光学检测装置的散热防尘壳体，包括用于安装光学检测组件的壳体，所述壳体上设置有用于对光学检测组件散热的进风口和出风口，所述进风口处设置有风扇，所述进风口和所述出风口之间通过散热风道连通，所述散热风道上设置有用于安装光学检测组件中发热单元的安装孔。本实用新型不仅能够实现大功率光学检测组件的散热，而且避免了风扇卷入的灰尘对其它电路板等光学检测组件的影响。
基本信息
专利标题 ：
一种用于光学检测装置的散热防尘壳体和光学检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022421535.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
CN212320907U
授权日 ：
2021-01-08
发明人 ：
曾强龙
申请人 ：
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 ：
武汉开元知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄行军
优先权 ：
CN202022421535.X
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02 G01N21/01 G03B17/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
2021-01-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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