一种耳机盖质量测试装置
授权
摘要
本实用新型提供一种耳机盖质量测试装置，包括：支架、液压缸、撞击实验块、限位插杆、限位管、测试结构一以及测试结构二，所述支架上表面安装有液压缸，所述液压缸下端设有伸缩杆，所述伸缩杆上端穿过支架上表面，所述伸缩杆下端设有静压头，所述支架上端下表面右侧设有固定块一，所述固定块一下表面安装有限位插杆，所述限位插杆上端右侧安装有限位杆，与现有技术相比，本实用新型具有如下的有益效果：通过设置液压缸和测试结构一，可以快捷简单的获得耳机外壳在静压下的承重能力以及损坏的极限承重力，撞击实验块、限位插杆以及测试结构二的设计，可以直观的得出耳机保护壳在不同的撞击力度下的受损情况，便于测试耳机保护壳的质量。
基本信息
专利标题 ：
一种耳机盖质量测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022429918.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-28
授权号 ：
CN213305760U
授权日 ：
2021-05-28
发明人 ：
吴师铭
申请人 ：
昆山度边电子科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山开发区平巷路1-2号3号楼
代理机构 ：
苏州欣达共创专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘盼盼
优先权 ：
CN202022429918.1
主分类号 ：
H04R29/00
IPC分类号 ：
H04R29/00
法律状态
2021-05-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
