一种用于工业检测的双频相控阵超声探头

授权

摘要

一种用于工业检测的双频相控阵超声探头，包括高频晶片阵元、低频晶片阵元、隔声层、外壳、线缆、连接器；所述高频晶片阵元、低频晶片阵元、隔声层封装于外壳内，高频晶片阵元和低频晶片阵元的阵元排列方式为线性阵列或二维阵列，所述隔声层将高频晶片阵元和低频晶片阵元分隔开，并且其分隔面垂直于高频晶片阵元和低频晶片阵元的阵元面，所述高频晶片阵元和低频晶片阵元分别通过线缆与连接器连接。将高频信号和低频信号融合在一起，既提升了检测的覆盖范围，又减少了更换探头所需的额外成本和时间，有效地提高了检测效率。在特定的频率配置下，还可实现非线性超声检测，具有充分的灵活性和便捷性。

基本信息

专利标题：

一种用于工业检测的双频相控阵超声探头

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022441812.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-10-28

授权号：

CN214408809U

授权日：

2021-10-15

发明人：

周昌智黄凯华刘思明代雪佳赵德斌黄斐易一平

申请人：

上海船舶工程质量检测有限公司;上海船舶工艺研究所(中国船舶工业集团公司第十一研究所)

申请人地址：

上海市徐汇区中山南二路851号四号楼一层

代理机构：

上海世圆知识产权代理有限公司

代理人：

王佳妮

优先权：

CN202022441812.3

主分类号：

G01N29/24

IPC分类号：

G01N29/24