一种浅孔取样支架装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种浅孔取样支架装置，涉及取样支架装置技术领域，为解决现有的浅孔取样支架装置使用时稳定性不够，结构复杂的问题。所述支架装置支撑座一侧的上方安装有第一固定取样滑动座，所述第一固定取样滑动座下方的中间位置处安装有防护套，所述防护套的下方安装有第二固定取样滑动座，所述第一固定取样滑动座的内部安装有取样支架滑杆，所述取样支架滑杆的上端安装有推把，所述取样支架滑杆的下端安装有安装头，所述安装头的下方安装有取样筒。
基本信息
专利标题 ：
一种浅孔取样支架装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022449223.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-29
授权号 ：
CN213688975U
授权日 ：
2021-07-13
发明人 ：
叶景艳陈澎军韩继军吴琦胡霄王晨戴天飞熊开宝张芬芬许庆华陶哲
申请人 ：
江苏华东地质环境工程有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市石门坎102号
代理机构 ：
南京禾易知识产权代理有限公司
代理人 ：
宋萍
优先权 ：
CN202022449223.X
主分类号 ：
G01N1/08
IPC分类号 ：
G01N1/08 F16M11/22 F16F15/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/04
固体的，如采用切割
G01N1/08
用提取工具，如岩心钻头
法律状态
2021-07-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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