一种X射线照射下的SF6气体电离检测装置
授权
摘要
本实用新型属于电气探伤设备领域，公开了一种X射线照射下的SF6气体电离检测装置，通过在密封容器内填充SF6气体进行放电测试，包括充有SF6气体的罐体、X射线机和测试电路；所述罐体内设有电极，所述电极与外部的测试电路连接，并在外部X射线机持续照射时检测罐体内电流大小来间接获取自由电子数。本实用新型通过模拟实际装填有SF6气体的GIS设备进行高能射线测试，从而获取该气体在一定强度和照射时间下会产生的变化特性，从而根据该特性来对现有设备进行改进。
基本信息
专利标题 ：
一种X射线照射下的SF6气体电离检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022462417.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-30
授权号 ：
CN213875527U
授权日 ：
2021-08-03
发明人 ：
曾德华周维超陈甄锐万志炜
申请人 ：
四川赛康智能科技股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区益州大道中段1800号4栋4层
代理机构 ：
成都中络智合知识产权代理有限公司
代理人 ：
嬴雨径
优先权 ：
CN202022462417.3
主分类号 ：
G01N27/64
IPC分类号 ：
G01N27/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/30
•••电极，例如测试电极；半电池
G01N27/60
通过测试静电变量
G01N27/64
利用波或粒子辐射电离气体，例如在电离室内
法律状态
2021-08-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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