一种半导体二极管检验测试装置
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摘要
本实用新型公开了一种半导体二极管检验测试装置，包括固定底座，所述固定底座的内部设有插板，所述插板的外部设有固定框架，所述固定框架置于所述插板的上方和所述插板通过铆钉进行固定，所述固定框架的内部设有二极管本体，所述二极管本体插入在所述插板的插孔内部通过电性连接，所述固定框架的外部设有蝶形螺母，所述蝶形螺母的内部设有螺丝杆，所述螺丝杆的一端和所述蝶形螺母通过焊接固定。通过在插板的外部设有固定框架，并且在固定框架的内部设有夹持块，设的夹持块通过设有的蝶形螺母对其进行控制，能够实现对固定框架内的半导体二极管进行固定，从而提高半导体二极管在质量检验测试过程中的稳定性，从而提高质量检验测试数据的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体二极管检验测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022467578.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-30
授权号 ：
CN213517423U
授权日 ：
2021-06-22
发明人 ：
张凌鹓张心波蒋凯王梦艳
申请人 ：
安徽凌波电子科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省滁州市定远县经济开发区标准化厂房
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022467578.1
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-06-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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