一种粒径检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种粒径检测装置,包括控制单元,所述控制单元连接有供料单元、视觉检测单元、清灰单元和计算单元和加工设备,且视觉检测单元与计算单元连接,所述供料单元包括用于对加工设备取样的取样装置、输送平台和振动器。该粒径检测装置,通过供料装置从加工设备中取样,把物料均匀输送至视觉检测平台的焦平面上,计算单元对通过物料的投影图像进行统计计算获取粒径尺寸分布,清灰装置对物料进行清理并回传至加工设备中,通过检测物料投影面积来获取颗粒物质的粒径分布数据,控制单元把粒径分布数据反馈至加工设备中,能够同时满足um及至mm级粒径颗粒物质的检测系统,可以达到较广的适用范围。

基本信息
专利标题 :
一种粒径检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022535806.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-11-05
授权号 :
CN214150318U
授权日 :
2021-09-07
发明人 :
李广孙似海郭晓军赵猛李清政徐晨晨王倩李根王雪
申请人 :
安徽中科光电色选机械有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市肥西县桃花镇
代理机构 :
合肥中悟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张婉
优先权 :
CN202022535806.4
主分类号 :
G01N15/02
IPC分类号 :
G01N15/02  G01N21/17  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
2021-09-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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