用于多参数分析介质的传感器模块
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种用于介质(105)的多参数分析的传感器模块(1)及其用途。根据本发明的传感器模块(1)的特征在于将光子和非光子测量原理与衬底(100)上的参数敏感涂层(103)相结合。可以在宽的参数范围内检测介质(105)的多个特性,其中对于相应的参数(至少例如关于精度、长期稳定性、分辨率、再现性、能耗、制造成本、必要的空间要求)可以使用最合适的方法。
基本信息
专利标题 :
用于多参数分析介质的传感器模块
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114270173A
申请号 :
CN202080046489.X
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2020-06-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马蒂亚斯·劳
申请人 :
圣特尼克光测量系统有限公司
申请人地址 :
德国德累斯顿
代理机构 :
北京高沃律师事务所
代理人 :
赵兴华
优先权 :
CN202080046489.X
主分类号 :
G01N21/35
IPC分类号 :
G01N21/35 G01N21/552 G01N21/64 G01N21/77 G01N21/78
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/35
申请日 : 20200608
申请日 : 20200608
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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