层叠造形系统
实质审查的生效
摘要

有关一个实施方式的层叠造形系统具备层叠造形部、测量部和控制部。上述层叠造形部通过形成多个层,将包括该多个层的物体造形。上述测量部测量各个上述层的状态。上述控制部具备存储部和推断部。上述存储部存储基于内部缺陷信息和试样测量信息的参照信息,所述内部缺陷信息基于透射过由上述层叠造形部造形并包括上述多个层的试样物体的电磁波表示存在于该试样物体的内部的缺陷,所述试样测量信息表示由上述测量部测量的上述试样物体的上述多个层的测量结果。上述推断部基于表示由上述测量部测量的上述物体的上述多个层的测量结果的测量信息和上述参照信息,推断在上述物体的内部是否发生缺陷。

基本信息
专利标题 :
层叠造形系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114450584A
申请号 :
CN202080067538.8
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-09-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
森松大亮藤卷晋平
申请人 :
芝浦机械株式会社
申请人地址 :
日本东京都
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
任玉敏
优先权 :
CN202080067538.8
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18  G01N23/046  G01N22/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/18
申请日 : 20200902
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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