用于含石墨干酪根地层的饱和度评价的方法
公开
摘要
一种用于评价含干酪根地下地层的饱和度的方法包括：获得所述地层的电导率值和介电常数值；以及提供将所述电导率和所述介电常数与所述地层的含水孔隙度和所述地层中石墨干酪根颗粒的有效纵横比相关联的有效介质模型。将所述获得的电导率值和所述介电常数值输入到所述模型中，转而处理所述模型以计算所述含水孔隙度。所述方法还可任选地包括评价所述含水孔隙度以估计所述地层的烃产率。
基本信息
专利标题 ：
用于含石墨干酪根地层的饱和度评价的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114514442A
申请号 ：
CN202080069875.0
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
D·霍曼N·乌什内-阿罗约C-Y·候D·弗里德J·拉斯姆斯
申请人 ：
斯伦贝谢技术有限公司
申请人地址 ：
荷兰海牙
代理机构 ：
北京世峰知识产权代理有限公司
代理人 ：
卓霖
优先权 ：
CN202080069875.0
主分类号 ：
G01V3/26
IPC分类号 ：
G01V3/26 E21B49/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/18
专用于测井记录的
G01V3/26
通过周围地层结构或探测装置产生或改变磁场或电场进行操作的
法律状态
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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