水分计、水分计的状态诊断方法及程序
公开
摘要
水分计(100)具备：质量测量部(2)，计测试料的质量；加热部(3)，将试料加热；控制运算部(5)，控制加热部(3)以加热直到试料的质量变化为规定的阈值以下，并根据加热前后的试料的质量变化计算试料的水分率；以及存储部(8)；控制运算部(5)具备：标准物质测量部(52a)，以通过以规定的温度加热而在任意的质量下都呈现固定的理论水分率的检查用的标准物质为试料，执行多次水分率的测量；标准偏差计算部(52c)，计算在多次测量中的实测水分率的标准偏差；以及状态诊断部(52d)，将实测水分率与存储在存储部中的标准物质的理论水分率比较，评价质量测量部(2)有无异常，并且判断标准偏差是否为规定值以下来评价设置环境的影响。
基本信息
专利标题 ：
水分计、水分计的状态诊断方法及程序
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114599953A
申请号 ：
CN202080072572.4
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-01-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
菅野将弘长根吉一
申请人 ：
株式会社爱安德
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
高迪
优先权 ：
CN202080072572.4
主分类号 ：
G01N5/04
IPC分类号 ：
G01N5/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N5/00
用称量的方法分析材料，例如称量从气体或液体分离出的微粒
G01N5/04
通过除去某种组分，例如通过蒸发并称量其剩余物
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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