信号处理方法、程序和信号处理系统
公开
摘要
本公开要解决的问题是在减少信号处理系统的规模增大的同时，对第一磁检测单元和第二磁检测单元进行故障诊断。根据本公开的信号处理方法用于包括第一磁检测单元(1)、第二磁检测单元(2)和处理单元(3)的信号处理系统(100)。信号处理方法包括角度计算步骤和故障诊断步骤。角度计算步骤包括：通过使用反三角函数，将正弦信号、余弦信号和正切信号分别变换成第一角度信号(V51)、第二角度信号(V52)和第三角度信号(V53)。故障诊断步骤包括：通过将选自第一角度信息、第二角度信息和第三角度信息中的两个或更多个角度信息相互比较，对第一磁检测单元(1)和第二磁检测单元(2)进行故障诊断。
基本信息
专利标题 ：
信号处理方法、程序和信号处理系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114599933A
申请号 ：
CN202080074030.0
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-11-05
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
藤浦英明齐藤义行
申请人 ：
松下知识产权经营株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
庄锦军
优先权 ：
CN202080074030.0
主分类号 ：
G01B7/30
IPC分类号 ：
G01B7/30 G01D5/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/30
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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