针对样本和/或样本容器表征提供背景照明校准的方法和设备
公开
摘要
提供了一种校准方法，包括关于每个成像装置来标识每个光板上的成像区。确定针对每个成像装置的每个光板的成像区的中心位置。使用每个成像装置的成像区的中心位置来确定成像设备的最佳光学中心。将管校准工具安装在轨道上的载体中，并且在轨道上移动所述载体，使得所述管校准工具的中心位于最接近所述成像设备的最佳光学中心的位置处。使用所述管校准工具的中心来确定用于背光校准的感兴趣区域（ROI）的中心。提供了用于对校准进行健康检查的方法和用于执行校准的设备以及其他方面。
基本信息
专利标题 ：
针对样本和/或样本容器表征提供背景照明校准的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114585927A
申请号 ：
CN202080076073.2
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-10-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张耀仁P·维斯曼L·利斯特尔B·S·波拉克R·扬盖尔R·R·P·纳拉姆文卡特V·纳拉辛哈墨菲A·卡普尔
申请人 ：
美国西门子医学诊断股份有限公司
申请人地址 ：
美国纽约州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
浩路
优先权 ：
CN202080076073.2
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00 G02F1/13357 G01N35/10 G06K9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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