一种土样固定仪及土样微观结构演变规律测定装置与方法
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摘要

本发明涉及土壤检测领域,具体涉及一种土样固定仪及土样微观结构演变规律测定装置与方法,包括下土样盒和上土样盒,所述上土样盒和上土样盒之间设置有套管,所述套管连通所述下土样盒与上土样盒;所述下土样盒底部设置有下固定座,所述上土样盒底部设置有上固定座;所述下固定座和上固定座之间设置有第一连接杆。本发明测定装置结构简单,而且获得土样不同角度的微观结构图,实现测试受拉土样内部微观结构包括土体孔隙结构及分布、裂隙的发育程度、颗粒大小、颗粒接触距离、颗粒接触方式等的动态演变规律,而且测试精度高。

基本信息
专利标题 :
一种土样固定仪及土样微观结构演变规律测定装置与方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112903418A
申请号 :
CN202110062256.5
公开(公告)日 :
2021-06-04
申请日 :
2021-01-18
授权号 :
CN112903418B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
孙银磊汤连生王玉玺
申请人 :
中山大学
申请人地址 :
广东省广州市海珠区新港西路135号
代理机构 :
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 :
李英杰
优先权 :
CN202110062256.5
主分类号 :
G01N3/02
IPC分类号 :
G01N3/02  G01N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/00
用机械应力测试固体材料的强度特性
G01N3/02
零部件
法律状态
2022-04-12 :
授权
2021-06-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 3/02
申请日 : 20210118
2021-06-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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