一种测量蜗轮副双啮误差的结构
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摘要
一种测量蜗轮副双啮误差的结构属于齿轮测量技术领域。本发明介绍了此蜗轮副双面啮合测量仪的系统结构，蜗轮副双啮仪测量中心距和中心高可根据被测工件尺寸进行调节，因此可测量多种规格的蜗轮蜗杆。仪器可以将测量通过测量软件实时呈现出来，测量范围广，测量精度高，可满足生产现场蜗轮蜗杆的快速测量。
基本信息
专利标题 ：
一种测量蜗轮副双啮误差的结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112902849A
申请号 ：
CN202110071864.2
公开（公告）日 ：
2021-06-04
申请日 ：
2021-01-20
授权号 ：
CN112902849B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
石照耀张临涛汤洁叶勇付瑛杨炳耀姜盟
申请人 ：
北京工业大学
申请人地址 ：
北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 ：
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘萍
优先权 ：
CN202110071864.2
主分类号 ：
G01B11/02
IPC分类号 ：
G01B11/02 G01M13/021
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2021-06-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/02
申请日 : 20210120
申请日 : 20210120
2021-06-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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