一种基于图像重构算法的纵向层析成像方法和装置
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摘要

本发明公开一种基于图像重构算法的纵向层析成像方法,包括:利用激光产生的倏逝波,照明具有非线性效应的样品,并拍摄激发的荧光强度图像;将样品的归一化非线性发光效率与激光输入强度之间的关系曲线和倏逝波沿纵向强度分布曲线联立,获得描述样品纵向位置与其对拍摄的图像强度贡献之间关系的贡献曲线;改变倏逝波照明强度,使贡献曲线的线型发生改变,拍摄N幅对应不同强度下的图像,构建包含N个方程的方程组;使用图像重构算法在约束条件下求解方程组,获得倏逝波穿透深度内样品高分辨率、高精度的纵向空间分布。本发明可获得远高于倏逝波穿透深度的纵向分辨率和定位精度,无需控制倏逝波照明的全内反射角,适用于基于片上波导结构的倏逝波照明。

基本信息
专利标题 :
一种基于图像重构算法的纵向层析成像方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113049550A
申请号 :
CN202110158098.3
公开(公告)日 :
2021-06-29
申请日 :
2021-02-04
授权号 :
CN113049550B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
杨青刘小威汤明炜刘旭
申请人 :
浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 :
杭州天勤知识产权代理有限公司
代理人 :
米志鹏
优先权 :
CN202110158098.3
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-05-27 :
授权
2021-07-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20210204
2021-06-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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