一种用于局部放电多光谱监测数据分析方法
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摘要
本发明公开了一种用于局部放电多光谱监测数据分析方法，方法中，获得探测对象的绝缘介质或界面中的局部放电所产生的辐射光谱分布，并按照等间隔波长将光谱线分为均匀的n个光谱带，利用关联光谱覆盖率F评价光谱检测对放电光谱特征的反映程度，获得最能够体现放电光辐射特征的多个关联光谱带；实时获得基于关联光谱带的多光谱同步脉冲数据，多光谱同步脉冲数据包括光谱脉冲的幅值和时间信息，基于每个光谱脉冲的幅值和时间信息形成多光谱特征参数矩阵；关联电压同步相位及多光谱特征参数矩阵，绘制放电多光谱周相谱图；基于放电多光谱周相谱图特征提取以获得多光谱监测数据。
基本信息
专利标题 ：
一种用于局部放电多光谱监测数据分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113009295A
申请号 ：
CN202110214974.X
公开（公告）日 ：
2021-06-22
申请日 ：
2021-02-25
授权号 ：
CN113009295B
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
任明张崇兴董明
申请人 ：
西安交通大学
申请人地址 ：
陕西省西安市咸宁西路28号
代理机构 ：
北京中济纬天专利代理有限公司
代理人 ：
覃婧婵
优先权 ：
CN202110214974.X
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01J3/28 G06F17/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2022-05-06 ：
授权
2021-07-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/12
申请日 : 20210225
申请日 : 20210225
2021-06-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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