一种单离子检测方法和装置
授权
摘要
本发明属于光学精密测量技术领域，针对光学生物传感器灵敏度不足、无法对单个离子或带电小分子相互作用分析的问题，本发明公开了一种基于单离子成像检测方法和装置，全内反射椭偏成像仪的探测光束，经电调制奇点耦合差分成像反应单元反射后，汇聚于CCD或CMOS探测器，所采集的传感表面图像数据传输给信号处理单元，通过对工作传感表面和参比传感表面的差分信号进行频谱分析，消除共模噪声，在频谱上选取调制信号所在峰值强度进行滤波，获得固液界面处单个离子或带电分子间的相互作用实时信号。本申请基于椭偏相位在表面等离子体共振角处的奇点效应及相应光学信号噪声抑制方案，能够实时观测单个离子或带电分子在固相表面的吸附及其物化反应。
基本信息
专利标题 ：
一种单离子检测方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112964648A
申请号 ：
CN202110308022.4
公开（公告）日 ：
2021-06-15
申请日 ：
2021-03-23
授权号 ：
CN112964648B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
刘巍牛宇罗子人
申请人 ：
中国科学院力学研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区北四环西路15号
代理机构 ：
北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
胡剑辉
优先权 ：
CN202110308022.4
主分类号 ：
G01N21/21
IPC分类号 ：
G01N21/21 G01N21/17
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2021-07-02 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/21
申请日 : 20210323
申请日 : 20210323
2021-06-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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