一种SERF原子磁强计的电子极化率双轴原位测量系统及方法
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摘要
一种SERF原子磁强计的电子极化率双轴原位测量系统及方法，通过在检测激光模块中设置将检测激光器发出的激光一分为二的第一偏振分光棱镜，其中第一束检测激光沿X轴穿越碱金属气室以测量检测轴电子极化率信息，第二束检测激光与抽运激光模块形成的抽运光耦合后沿Z轴穿越碱金属气室以测量抽运轴电子极化率信息，所述检测轴电子极化率Px通过对X轴方向旋光角θx的测量实现原位测量，所述抽运轴电子极化率Pz通过对Z轴方向旋光角θz的测量实现原位测量，有利于在SERF原子磁强计正常工作时完成碱金属电子双轴极化率的在线测量，提高测量效率。
基本信息
专利标题 ：
一种SERF原子磁强计的电子极化率双轴原位测量系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113075594A
申请号 ：
CN202110313962.2
公开（公告）日 ：
2021-07-06
申请日 ：
2021-03-24
授权号 ：
CN113075594B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
陆吉玺马彦宁杨可翟跃阳韩邦成
申请人 ：
北京航空航天大学
申请人地址 ：
北京市海淀区学院路37号
代理机构 ：
北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴小灿
优先权 ：
CN202110313962.2
主分类号 ：
G01R33/032
IPC分类号 ：
G01R33/032
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/032
采用磁—光设备，例如法拉第的
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2021-07-23 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/032
申请日 : 20210324
申请日 : 20210324
2021-07-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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