用于估计分析物浓度的设备和方法以及信号测量设备
公开
摘要
提供了一种用于估计分析物浓度的设备和方法以及信号测量设备。用于估计分析物浓度的设备包括：(1)信号测量器，包括：光学相干断层扫描(OCT)装置，被配置为向对象发射OCT信号并且接收从对象反射或散射的OCT信号；和光谱仪，被配置为向对象发射光谱仪信号并且基于从对象反射或散射的光谱仪信号获得光谱；和(2)处理器，被配置为基于OCT信号预测预定波长范围内的每个波长的路径长度分布，并基于预测的路径长度分布和获得的光谱来估计分析物的浓度。
基本信息
专利标题 ：
用于估计分析物浓度的设备和方法以及信号测量设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114295562A
申请号 ：
CN202110359687.8
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-04-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李俊虎安城模
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道水原市
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
张川绪
优先权 ：
CN202110359687.8
主分类号 ：
G01N21/27
IPC分类号 ：
G01N21/27 G01N21/45 G01N21/47 G01N21/49
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/27
利用光电检测
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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