一种基于微波相位差测距的叶尖间隙动态测量系统及方法
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摘要
本发明公开一种基于微波相位差测距的叶尖间隙动态测量系统及方法，测量系统包括微波信号产生模块、信号功率放大模块、信号接收及混频模块、信号调理模块、环行器、微波传感器、信号采集模块、计算机，其中微波信号产生模块提供射频稳定的发射信号和参考信号，待测叶片将发射信号反射，形成反射信号；环行器的三个端口通过信号线分别与信号功率放大模块、微波传感器和信号接收及混频模块相连，信号功率放大模块通过连接线分别与微波信号产生模块和信号接收及混频模块相连，信号调理模块通过连接线与信号接收及混频模块相连，信号采集模块通过连接线与信号调理模块相连，计算机通过连接线与信号采集模块相连。
基本信息
专利标题 ：
一种基于微波相位差测距的叶尖间隙动态测量系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112964204A
申请号 ：
CN202110378370.9
公开（公告）日 ：
2021-06-15
申请日 ：
2021-04-08
授权号 ：
CN112964204B
授权日 ：
2022-04-29
发明人 ：
段发阶周琦牛广越刘志博李芳怡蒋佳佳傅骁
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市南开区卫津路92号
代理机构 ：
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 ：
刘子文
优先权 ：
CN202110378370.9
主分类号 ：
G01B15/00
IPC分类号 ：
G01B15/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
法律状态
2022-04-29 ：
授权
2021-07-02 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 15/00
申请日 : 20210408
申请日 : 20210408
2021-06-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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