一种半设备无关的量子态层析方法

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摘要

本发明公开了一种新型的量子态层析方法，涉及量子计算、量子通信以及量子测量技术领域，可以大大降低现有方法中对测量仪器的要求。利用自发参量下转换制备双光子源，通过Hong.Ou.Mandel干涉构建联合测量算符以实现对双光子的联合测量。双光子由一个待重构量子态与一个辅助态构成，只需制备一组信息完备的可信辅助态以及提供一个测量算符即可实现对未知态的重构，实现了半设备无关的量子态层析。同时，本发明此可以扩展到量子过程层析等其他量子信息处理领域。

基本信息

专利标题：

一种半设备无关的量子态层析方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113238424A

申请号：

CN202110453129.8

公开（公告）日：

2021-08-10

申请日：

2021-04-26

授权号：

CN113238424B

授权日：

2022-04-15

发明人：

高江李剑陆铮王琴程崇虎庞志广魏敏

申请人：

南京邮电大学

申请人地址：

江苏省南京市鼓楼区新模范马路66号

代理机构：

南京经纬专利商标代理有限公司

代理人：

周科技

优先权：

CN202110453129.8

主分类号：

G02F1/35

IPC分类号：

G02F1/35 G02F1/355 G02F1/39 G02B27/28