一种空间载波调制装置
授权
摘要
本发明属于全场干涉类光学测量技术领域,涉及一种空间载波调制装置。本发明装置利用折射率对传播方向的影响,在两个光栅之间安装两个楔形透明介质,通过改变两个透明介质的相对位置来实现调控经过这两个透明介质的光的光程差空间分布,进而实现空间载波调制。本发明可有效地实现在测量光路中施加沿着剪切方向的线性的光程差,解决了CGS方法在测量过程中无法施加载波的技术难题,提高了测量精度和效率。本发明装置通过调整楔形棱镜的倾斜角度来实现施加空间载波,其结构简单,原理简明,且不需要改变原有测量系统光路布置,操作简易,而且适用范围广、经济成本低。
基本信息
专利标题 :
一种空间载波调制装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113295105A
申请号 :
CN202110488756.5
公开(公告)日 :
2021-08-24
申请日 :
2021-05-06
授权号 :
CN113295105B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
谢惠民李加强
申请人 :
清华大学
申请人地址 :
北京市海淀区清华园1号
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
罗文群
优先权 :
CN202110488756.5
主分类号 :
G01B11/16
IPC分类号 :
G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形,例如光学应变仪
法律状态
2022-05-27 :
授权
2021-09-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20210506
申请日 : 20210506
2021-08-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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